Biuletyn AGH
Magazyn Informacyjny Akademii Górniczo-Hutniczej
28 styczeń 2023

Międzynarodowe Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej

W dniu 1 czerwca 2010 roku Rektor AGH prof. Antoni Tajduś powołał Międzynarodowe Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej (International Centre of Electron Microscopy for Materials Science, IC-EM).

Centrum jest jednostką pozawydziałową AGH działającą we współpracy z partnerami zagranicznymi. Jednostką wiodącą Centrum jest Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej AGH, zaś wiodącym partnerem zagranicznym jest Forschungszentrum Jülich (FZJ). Kierownikiem IC-EM została mianowana pani prof. Aleksandra Czyrska-Filemonowicz. Działalność naukowo-badawcza IC-EM obejmuje badania podstawowe i stosowane związane z problemami mikroskopii elektronowej w nauce o materiałach, fizyce, chemii, elektronice, energetyce i medycynie. Centrum ma charakter otwarty dla wszystkich jednostek AGH.

W dniu 30 września 2010 roku w Forschungszentrum Jülich zostało uroczyście podpisane porozumienie o współpracy Agreement of Co-operation pomiędzy Centrum IC-EM a Forschungszentrum Jülich.

Uroczyste podpisanie Porozumienia o Współpracy Międzynarodowego Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej z Forschungszentrum Jülich. Od lewej: prof. dr. Lorenz Singheiser, dyrektor Institute for Energy Research w FZJ; prof. dr. dr. Harald Bolt, wicedyrektor FZJ; prof. Tomasz Szmuc, Prorektor ds. Nauki AGH; prof. Aleksandra Czyrska-Filemonowicz, kierownik IC-EM. - fot. arch. autorki

W wyniku realizacji projektu „Zakup analitycznego transmisyjnego mikroskopu elektronowego z unikalnym oprzyrządowaniem do badań mikro- i nanostruktury materiałów” w ramach Działania 2.1 Programu Operacyjnego Innowacyjna Gospodarka, na wiosnę 2011 roku w IC-EM zostanie zainstalowany analityczny transmisyjny mikroskop elektronowy najnowszej generacji (S)TEM FEI Titan Cubed 60-300.

Ten nowoczesny mikroskop elektronowy z unikalnym detektorem promieniowania rentgenowskiego (tzw. Super EDX) umożliwi rozwijanie nowych, niedostępnych dotychczas w Polsce metod badawczych analitycznej mikroskopii elektronowej i ich zastosowanie do badań materiałów w nanoskali:

– spektroskopii strat energii elektronów przechodzących przez próbkę i nie ulegających ugięciu (EELS),

– mikroskopii wykorzystującej filtrowanie energii elektronów (EFTEM),

– skaningowo-transmisyjnej mikroskopii elektronowej w jasnym (STEM-BF) i ciemnym polu widzenia (HAADF) z rozdzielczością atomową możliwą do osiągnięcia dzięki zastosowaniu korektora aberracji sferycznej soczewek kondensorowych,

– tomografii elektronowej,

– holografii elektronowej.

Nowe techniki badawcze w mikroskopii elektronowej (np. EFTEM, holografia elektronowa i tomografia elektronowa) zostały już w Polsce zapoczątkowane przez zespół Centrum IC-EM. Dorobek i potencjał naukowy zespołu jest gwarancją najbardziej efektywnego wykorzystania tego ultra-nowoczesnego mikroskopu elektronowego do prowadzenia prac badawczych z zakresu inżynierii materiałowej na najwyższym światowym poziomie.

opracowała: dr inż. Beata Dubiel