Biuletyn AGH
Magazyn Informacyjny Akademii Górniczo-Hutniczej
29 listopad 2022
Strona GłównaBiuletyn AGHArchiwumKontakt
Międzynarodowa konferencja mikroskopii elektronowej EM2014
30 październik 2014

15–18 września 2014 roku w Krakowie odbyła się XV International Conference on Electron Microscopy EM2014 .

Jest to cykliczna konferencja międzynarodowa, zainicjowana w 1969 roku przez profesora Stanisława Gorczycę, doktora honoris causa AGH. Konferencja ta jest organizowana co trzy lata przez wiodące ośrodki mikroskopii elektronowej w Polsce.

fot. Stanisław Malik

Tegoroczna piętnasta konferencja mikroskopii elektronowej była zorganizowana przez Międzynarodowe Centrum Mikroskopii Elektronowej dla Inżynierii Materiałowej oraz Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej AGH, a współorganizatorami konferencji były Polskie Towarzystwo Mikroskopii oraz Komitet Nauki o Materiałach Polskiej Akademii Nauk. Patronat nad konferencją objął prof. Tadeusz Słomka, Rektor AGH.

Celem konferencji było zaprezentowanie i przedyskutowanie na forum międzynarodowym najnowszych osiągnięć naukowych z zakresu zastosowania nowoczesnych metod mikroskopii elektronowej w inżynierii materiałowej, fizyce, chemii, naukach o Ziemi oraz w biologii i w medycynie.

fot. Stanisław Malik

Konferencja EM2014 uzyskała status satelitarnej konferencji międzynarodowego kongresu mikroskopii elektronowej 18 International Microscopy Congress IMC2014, który odbył się w Pradze 7–12 września 2014. Wielu najwybitniejszych naukowców z czołówki światowej, którzy uczestniczyli w kongresie w Pradze, zaszczyciło nas swoją obecnością.

W konferencji wzięło udział 251 uczestników reprezentujących 73 uczelnie wyższe, instytuty i firmy krajowe jak i zagraniczne, w tym 70 gości z zagranicy, z 6 kontynentów i 20 państw.

fot. Stanisław Malik

Otwarcia konferencji w auli AGH dokonał prof. Zbigniew Kąkol, Prorektor ds. Nauki, który przedstawił uczestnikom informację o Akademii Górniczo-Hutniczej, ze szczególnym uwzględnieniem działalności naukowo-dydaktycznej. Następnie głos zabrał prezydent International Federation of Microscopy Societes (IFSM) prof. C. Barry Carter przedstawiając cele i zakres działalności IFSM. W kolejnym wystąpieniu prezes Polskiego Towarzystwa Mikroskopii (PTMi) prof. Aleksandra Czyrska-Filemonowicz zaprezentowała historię konferencji mikroskopii elektronowej w Polsce oraz informację na temat aktywności PTMi w kraju i na arenie międzynarodowej. Wykład plenarny pod inspirującym tytułem „TEM – it’s always in situ” wygłosił prof. C. Barry Carter.

fot. Stanisław Malik

Po zakończeniu sesji plenarnej dalsza część konferencji odbyła się w Centrum konferencyjnym w Hotelu Galaxy w Krakowie.

Prezentowane prace obejmowały zarówno zagadnienia teoretyczne, jak i zastosowania nowych technik transmisyjnej mikroskopii elektronowej do charakteryzacji mikrostruktury i były pogrupowane na następujące sesje tematyczne:

– najnowsze osiągnięcia skaningowej mikroskopii elektronowej,

– aparatura i metody numeryczne w mikroskopii elektronowej,

– wysokorozdzielcza mikroskopia elektronowa i holografia elektronowa,

– analityczna mikroskopia elektronowa,

– tomografia elektronowa,

– zastosowanie mikroskopii elektronowej w nauce o materiałach,

– zastosowanie mikroskopii elektronowej w naukach o Ziemi, biologii i medycynie.

fot. Stanisław Malik

Program konferencji obejmował 26 zaproszonych wykładów, 28 referatów i 129 posterów. Wykłady na zaproszenie wygłosili naukowcy reprezentujący wiodące ośrodki mikroskopii elektronowej na świecie i w Polsce, wśród których znaleźli się: prof. C. Barry Carter (University of Connecticut, Stany Zjednoczone), prof. Knut Urban (Forschungszentrum Jülich, Niemcy), prof. Hannes Lichte (Technical University Dresden, Niemcy), prof. Maximilan Haider (Karlsruhe Institute of Technology, Niemcy), prof. Philippe Buffat (Swiss Federal Institute of Technology in Lausanne, Szwajcaria), prof. Ulrich Dahmen (National Center for Electron Microscopy, Berkeley, Stany Zjednoczone), prof. Guilermo Solorzano (Pontifical Catholic University of Rio de Janeiro, Brazylia), prof. Velimir Radmilovic (University of Belgrade, Serbia), prof. Robert Sinclair (Stanford University, Stany Zjednoczone), prof. Ferdinand Hofer (Technical University Graz, Austria), prof. Ludek Frank (Institute of Scientific Instruments ASC, Brno, Republika Czeska), prof. Joachim Mayer (RWTH Aachen University, Niemcy), prof. Eva Olsson (Chalmers University of Technology, Szwecja), prof. Boris Straumal (Institute of Solid State Physics RAS, Rosja), prof. Wolfgang Jager (Christian-Albrechts-University Kiel, Niemcy), prof. Cecile Hebert (Swiss Federal Institute of Technology in Lausanne, Szwajcaria), prof. Christine Leroux (Université du Sud Toulon-Var, Francja), prof. Paul Midgley (University of Cambridge, Wielka Brytania), prof. Rafal Dunin Borkowski (Forschungszentrum Jülich, Niemcy), dr Martin Hytch (CNRS Toulouse, Francja), dr Bart Goris (University of Antwerp, Belgia), dr Ana Sanchez (University of Warwick, Wielka Brytania), prof. Piotr Dłużewski (Institut Fizyki PAN, Warszawa), dr hab. Grzegorz Tylko (Uniwersytet Jagielloński, Wydział Biologii i Nauk o Ziemi), dr hab. inż. Adam Kruk (Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej AGH).

W konferencji wzięło także udział 19 przedstawicieli przemysłu oraz firm związanych z mikroskopią elektronową. W sali wystawienniczej na 13 stoiskach przedstawiciele firm zaprezentowali zainstalowane mikroskopy elektronowe, specjalistyczną aparaturę pomocniczą i oprogramowanie. Ponadto swoją ofertę przedstawiły 3 czasopisma naukowe.

Udział młodych naukowców w konferencji EM2014 aktywnie wsparło Polskie Towarzystwo Mikroskopii, które zorganizowało konkurs na najlepszą pracę naukowo-badawczą dla doktorantów i ufundowało nagrody dla trzech laureatów tego konkursu w postaci stypendiów równoważnych kwocie opłaty konferencyjnej. Laureatami tego konkursu zostali Krishnan Dileep (Jawaharial Nehru Center for Advanced Scientific Research, Indie), Joanna Gryboś (UJ, Wydział Chemii) oraz Joanna Karbowniczek (Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej AGH).

Podczas konferencji zorganizowano także konkurs na najlepszy poster, w którym nagrody ufundowała firma COMEF. Zwycięzcą pierwszej nagrody została Aldona Mzyk (Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej Polskiej Akademii Nauk, Kraków), drugie miejsce przypadło w udziale Sayanti Banerjee (Technische Universität Dresden, Niemcy), a trzecie miejsce zajął Mateusz Kopyściański (Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej AGH). Laureatami w konkursie na najciekawsze zdjęcie zostali Cyril Guedj (CEA, LETI, MINATEC Campus, Francja), Łukasz Major (Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej Polskiej Akademii Nauk, Kraków), Katarzyna Berent (Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii AGH) oraz Adam Gruszczyński (Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej AGH).

Streszczenia wykładów i prezentacji posterowych opublikowano w książce abstraktów XV International Conference on Electron Microscopy EM2014 Programme and Abstracts. Kraków, Poland, 5–18 September 2014. Wydawnictwo Naukowe Akapit, Kraków 2014 (ISBN 978–83–63663–48–3) w wersji drukowanej oraz w wersji elektronicznej na stronie internetowej konferencji www.em2014.agh.edu.pl. Materiały konferencyjne zostały przez organizatorów przekazane do Biblioteki Głównej AGH.

Pracami komitetu organizacyjnego kierowała dr hab. inż. Beata Dubiel, a sekretarzami konferencji byli dr inż. Grzegorz Michta i dr hab. inż. Tomasz Moskalewicz. W pracach komitetu organizacyjnego brali także udział dr hab. inż. Adam Kruk i dr hab. inż. Władysław Osuch, prof. AGH (wszyscy z Wydziału Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej AGH).

Organizatorzy dziękują Ministerstwu Nauki i Szkolnictwa Wyższego, Polskiej Akademii Nauk, Europejskiemu Towarzystwu Mikroskopii oraz firmom FEI i JEOL za dofinansowanie konferencji, a wszystkim uczestnikom za bardzo wysoki poziom naukowy prezentowanych prac i stworzenie miłej atmosfery.

Tomasz Moskalewicz i Grzegorz Michta